老化房之老化系统的涵义和原理
老化测试方法通常涉及最终产品压力测试,但也可以用于基于可靠性的评估,以帮助提高制造标准。可靠性测试通常侧重于在设计阶段而不是在开发后创建可靠性,并结合内置的可靠性,并在晶圆级进行测试以减少封装费用。如果确定了导致某些故障的基本电气,机械,化学或热性能,则有可能在出现问题之前就避免它们的出现。这种“故障现象”方法突出了产品缺陷的根本原因,并可以为设计和开发过程提供有益的反馈。
大多数半导体器都有早期故障的风险,这会缩短其产品的使用寿命。老化测试可用于在此关键的早期阶段确定组件的可靠性,并确保电路进入其寿命的更有效的长期阶段。老化系统可以使设备在升高的电压和温度下运行,这会在短时间内触发电压和温度故障机制。老化系统可以使设备在升高的电压和温度下运行,这会在短时间内触发电压和温度故障机制。虽然预烧测试可能对筛选有缺陷的产品有益,但成本会根据设备的复杂性和所需的预烧时间而增加,并且由于性能条件的严重性,有时还会引入新的故障模式。
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